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CMOS传感器自动测试机LD615-01
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立德爱博LD615-01 CMOS图像传感器自动测试机

LD615-01 自动测试机机特性:

  LCC、PBGACSP等封装CMOS图像传感器测试的理想选择。

  吸头运动方向均采用由计算机控制的伺服电机系统,精密丝杆传动,动作灵活、定位准确、速度快。

  采用图像识别和自动定位技术,自动完成所有取放片动作。

  采用5工位独立同时测试,有效提高测试效率;

  采用最短连接测试方式,有效保证测试准确性;

  可支持多种Tray,以及JEDEC Tray,并可分成最多30PIN(根据芯片而定)。

  优越的结构设计,采用计算机控制,全中文操作界面,更精确,方便的操作。

  可适应各种封装形式的CMOS图像传感器器件测试。

  可兼容LCC PBGACSP封装形式IC及指纹IC等器件电性测试。

立德爱博LD615-01自动测试机规格参数

1.系统功能

测试方式

5颗独立

放片精度

X +50um

生产速度

≥单颗测试时间/5+100ms

压力范围

30 150gf

适用Tray

234JEDEC Tray

适应吸嘴

橡胶

拾晶方式

摆臂方式

PIN

最多30PIN(视IC定)

2.上料 XY工作台

芯片

Tray种类

234 TrayJEDEC Tray

芯片类型

常用CMOS图像传感器封装

工作台

最大行程

4*JEDEC Tray

分辩率

0.02mil(0.5μm)

重复率

±0.02mil(±0.5μm)

 

 

3.图像识别系统

图像识别

256级灰度

分辩率

640×480像素

图像识别精度

0.025mil@50mil规测范围

4.测试台

放置检测

视觉检测

5.Tray 装载

LOADER装载

手动

6.机台体积及重量

**

1450x1400x1800mm

重量

800KG

7.运行要求

电压

AC-220V

频率

50Hz

压缩空气

0.4~0.6Mpa

真空负压

80Kpa

功率消耗

800W

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CMOS传感器自动测试
 
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